Фраза дня
Нет стремления более естественного, чем стремление к знанию.
Мишель де Монтень

Наука
Экспертные,консалтинговые,
научно-методические
услуги

- Национальные проекты
- Междисциплинарная научно-образовательная олимпиада школьников «Малая академия наук «НИКА» (2026 год)
- Наиболее значимые публикации
- Серия вебинаров о библиометрии и продуктах Clarivate Analytics и практические рекомендации по публикации в международных журналах международной базы научного цитирования Web of Science
- Регистрация на мероприятия
- Обновлен список ВАК
- Обновлен список российских журналов в Scopus
Достижения университетской науки: публикация статьи, включенной в МБЦ SCOPUS
Во 2 номере научного журнала «Известия вузов. Физика», переводная версия которого включена в международные библиографические базы Web of Science и Scopus, была опубликована статья доктора физико-математических наук, профессора кафедры математики и физики Филиппова Владимира Владимировича и кандидата физико-математических наук, доцента кафедры информатики, информационных технологий и защиты информации Лузянина Сергея Евгеньевича на тему: «Контроль однородности полупроводниковых пленок в процессе проведения зондовых измерений удельной электропроводности» DOI: 10.17223/00213411/68/2/9
Работа выполнена в соавторстве с коллегами, кандидатами физико-математических наук из других вузов и научных центров: Ершовым Александром Анатольевичем (Институт математики и механики им. Н.Н. Красовского УрО РАН, г. Екатеринбург) и Заворотним Анатолием Анатольевичем (Липецкий государственный технический университет, г. Липецк)
В опубликованной научной работе рассмотрены основные выражения, позволяющие определять значение удельной электропроводности в полупроводниковых пластинах и пленках прямоугольной и круглой формы при двухзондовом методе измерений на постоянном токе. На основе асимптотического анализа получены приближенные удобные для расчетов формулы для разности потенциалов между измерительными зондами. Показано, что в большинстве практически используемых случаев предлагаемые асимптотические формулы можно использовать без увеличения измерительной погрешности в случаях контроля однородности распределения электрофизических параметров исследуемых образцов.
Ссылка на журнал и публикацию: https://journals.tsu.ru/engine/download.php?id=295770&area=files
10.03.2025




