Фраза дня
Нет стремления более естественного, чем стремление к знанию.
Мишель де Монтень
Наука
Экспертные,консалтинговые,
научно-методические
услуги
- Национальный проект «Наука и университеты»
- Междисциплинарная научно-образовательная олимпиада школьников «Малая академия наук «НИКА» (2024 год)
- Наиболее значимые публикации
- Серия вебинаров о библиометрии и продуктах Clarivate Analytics и практические рекомендации по публикации в международных журналах международной базы научного цитирования Web of Science
- Регистрация на мероприятия
- Обновлен список ВАК
- Обновлен список российских журналов в Scopus
Статья ученых нашего университета опубликована в академическом научном журнале Acta Physica Polonica
В Липецком государственном педагогическом университете имени П.П. Семенова-Тян-Шанского продолжает работу научно-исследовательская лаборатория «Физика полупроводников и твердотельной электроники» под руководством доктора физико-математических наук, профессора Филиппова Владимира Владимировича.
Одним из следствий работы лаборатории явилось опубликование в журнале Польской академии наук Acta Physica Polonica A в начале 2021 года научной статьи «The Technique of specific conductivity Measurement of anisotropic Semiconductor Plate and Films» («Методика измерения удельной электропроводности анизотропных полупроводниковых пластин и пленок»). Научный журнал Acta Physica Polonica A включен в базу данных Scopus. По данным на 2020 год, показатель SJR равен 0.217.
В статье авторы (Филиппов В.В., Мицук С.В., Лузянин С.Е., Тигров В.П.) представили быструю оригинальную методику измерения компонент тензора удельной проводимости тонких полупроводниковых пластин. Предложенная методика была научно обоснована решением соответствующих краевых задач электродинамики, характеризуется простотой измерений и расчетов. Экспериментальные испытания проводились на монокристаллах диарсенида кадмия и диарсенида цинка и стали возможны благодаря приобретенному для лаборатории имени Н.Г. Басова научному оборудованию, а именно зондовому микроскопу (СММ-2000) и металлографическому микроскопу (MMP-3).
08.06.2021